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電驅系統(tǒng)

SOLUTION

MCU-HiL 硬件在環(huán)

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MCU硬件在環(huán)(HiL)仿真測試系統(tǒng)

電機控制器開發(fā)涉及高電壓、大電流,直接進行電機臺架試驗有較大風險,對算法成熟度要求較高,意昂神州提供的電機HiL硬件在環(huán)仿真測試的目的是以最低的成本執(zhí)行比較困難的測試和使用物理原型風險太大的測試。
MCU硬件在環(huán)(HiL)仿真測試系統(tǒng)組成

                                    MCU硬件在環(huán)(HiL)仿真測試系統(tǒng)組成


主要功能


  • 專注電機控制器功能測試,為電機臺架的功能及性能測試打下基礎

  • 控制器故障注入及分析在電機控制器設計前期階段即可發(fā)現(xiàn)問題,而無需等到在物理原型上才發(fā)現(xiàn)

  • 執(zhí)行在各種極限條件下測試

  • 控制算法在線分析,跟蹤調(diào)試

  • 開發(fā)中的測試故障復現(xiàn)

  • 可以實現(xiàn)軟硬件并行開發(fā),縮短開發(fā)周期

  • 在測試系統(tǒng)建立之前,在實驗室環(huán)境下完成初始化標定

  • 可降低開發(fā)測試成本

  • 可進行重復的自動化測試


MCU硬件在環(huán)(HiL)仿真測試系統(tǒng) 


技術先進性


  • PMSM、SRM 和逆變器模型實現(xiàn)高性能仿真

  • 高保真仿真可支持基于FEA 的JMAG-RT 模型及ANSOFT模型

  • 開放式軟件提供充分的靈活性和定制化

  • LabVIEW 項目模板用于構建軟件仿真應用和硬件在環(huán)應用

  • 直接集成NI VeriStand,用于基于配置的實時測試

  • 桌面仿真模型、LabVIEW Real-Time 仿真模型和基于FPGA 的仿真模型

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